复合式自动光学检测设备
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种复合式自动光学检测设备,其包含有一检测污染粒子的扫描式摄像镜头;一缺陷面拍摄的显微镜头;一配向膜膜厚量测镜头;以及一主要程序主机。本实用新型之复合式自动光学检测设备在仅需配置一个载入/卸载区域的设计下,即可具有污染粒子检测、缺陷面拍摄与配向膜膜厚量测的功用,形成一机多用途的有效利用,因此可大幅度缩小自动光学检测设备在无尘室的空间占用率,进而使得无尘室的空间能更有效地应用。

基本信息
专利标题 :
复合式自动光学检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820046601.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-18
授权号 :
CN201266176Y
授权日 :
2009-07-01
发明人 :
施明峯
申请人 :
深超光电(深圳)有限公司
申请人地址 :
518108广东省深圳市宝安区龙华镇民清路伍屋工业区东富龙民清宿舍1楼
代理机构 :
东莞市中正知识产权事务所
代理人 :
侯来旺
优先权 :
CN200820046601.6
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01B11/06  G02F1/13  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2014-06-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101582886606
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2008200466016
申请日 : 20080418
授权公告日 : 20090701
终止日期 : 20130418
2009-07-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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