一种基于光纤干涉原理的纳米测量机测头
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及基于光纤干涉原理的纳米测量机测头,该测头包括接触模式的悬臂梁探针,探针夹持器,基于光纤和分束镜的斐索干涉仪。该系统作为纳米测量机的传感器,感测样品表面的形貌,该系统还可以实现纳米测量机大范围扫描的定位作用,并可将位移信号传输给纳米测量机。本实用新型与现有其他测头的不同之处在于选用光纤传光从而简化干涉仪的结构;特有的探针夹持器,可以使用实验室现有的探针;放大电路中选用了美信新出产的放大芯片,专门用于放大光电二极管输出的电流,并将其转换为电压,提高了电路的性能。在光电转换中使用了提供的光纤干涉原理的纳米测量机测头用于研究不同样品的纳米测量机的扫描。具有扫描范围大、精度高等特点。

基本信息
专利标题 :
一种基于光纤干涉原理的纳米测量机测头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720096252.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-05
授权号 :
CN201066273Y
授权日 :
2008-05-28
发明人 :
李艳宁丁丽丽郭彤傅星胡小唐
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
300072天津市南开区卫津路92号天津大学
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
江镇华
优先权 :
CN200720096252.4
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005927091
IPC(主分类) : G01B 11/02
专利号 : ZL2007200962524
申请日 : 20070605
授权公告日 : 20080528
2008-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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