一种带有缺陷地结构的强耦合器
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型涉及一种带有缺陷地结构的强耦合器,包括腔体、盖板、大功率匹配负载、带状线耦合器板、连接器,所述的盖板设在腔体上部,所述的带状线耦合器板设在腔体内,所述的连接器设在腔体侧面,所述的带状线耦合器板包括上下两块,所述的大功率匹配负载设在带状线耦合器板下面一块,所述的带状线耦合器板上面一块上表面设有缺陷地结构,所述的腔体内壁底面设有一槽。与现有技术相比,本实用新型具有使耦合结构可以更为紧凑,并提高耦合器的方向性等优点。
基本信息
专利标题 :
一种带有缺陷地结构的强耦合器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720077424.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-27
授权号 :
CN201134494Y
授权日 :
2008-10-15
发明人 :
梁文超熊明罗庆
申请人 :
奥雷通光通讯设备(上海)有限公司
申请人地址 :
200335上海市长宁区天山西路789号3楼西侧
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
赵继明
优先权 :
CN200720077424.3
主分类号 :
H01P5/18
IPC分类号 :
H01P5/18
法律状态
2013-04-03 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101558000977
IPC(主分类) : H01P 5/18
专利号 : ZL2007200774243
申请日 : 20071227
授权公告日 : 20081015
放弃生效日 : 20071227
号牌文件序号 : 101558000977
IPC(主分类) : H01P 5/18
专利号 : ZL2007200774243
申请日 : 20071227
授权公告日 : 20081015
放弃生效日 : 20071227
2008-10-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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