上照式X荧光能量色散光谱仪
专利权的终止
摘要
一种上照式X荧光能量色散光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，其特征在于：所述机身包括外壳(91)、密封样品腔(71)、机架(9)、探测器(10)、光管(11)和样品台(81)，其特征在于：所述样品台(81)固定于所述探测器(10)和光管(11)的下方。因此样品位于照射光路的下方，采用这种光路设计，可以避免在测试过程中可能对光路造成的污染，从而更进一步地排除了可能对测试结果产生影响的因素，保证了测试效果。
基本信息
专利标题 ：
上照式X荧光能量色散光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720062800.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-03-28
授权号 ：
CN201016945Y
授权日 ：
2008-02-06
发明人 ：
刘召贵
申请人 ：
深圳市天瑞仪器有限公司
申请人地址 ：
518000广东省深圳市宝安区福永镇重庆路科比新工业园
代理机构 ：
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 ：
刘大弯
优先权 ：
CN200720062800.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01J3/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2017-05-17 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101719594536
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2007200628001
申请日 : 20070328
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20160328
号牌文件序号 : 101719594536
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2007200628001
申请日 : 20070328
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20160328
2008-02-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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