光电测宽仪动态测量位置校正方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种光电测宽仪动态测量的位置校正方法。该方法适用于光电测宽仪在线测量时，对被测物轴向跳动和倾斜引起的测量误差进行实时校正。本发明的特点是：从探测器获得的宽度信息中提取出轴向位置信息，使测宽仪具有沿光轴方向对被测物位置的识别能力，组成测宽、测距合一的测量系统，经过实验模式对摄像机定标和以校正模型建立目标轴向跳动和倾斜校正关系式，使在动态测量时，根据位置信息可实时校正测量误差。
基本信息
专利标题 ：
光电测宽仪动态测量位置校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1847781A
申请号 ：
CN200610023864.0
公开（公告）日 ：
2006-10-18
申请日 ：
2006-02-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
童卫旗陈桂林
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
200083上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海新天专利代理有限公司
代理人 ：
田申荣
优先权 ：
CN200610023864.0
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2008-06-11 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-12-13 ：
实质审查的生效
2006-10-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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