电子组件测试系统的万用型探针装置
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摘要
一种使用在电子组件测试系统的探针装置，“万用型”表示此探针装置可适用于各种不同的面板尺寸及组件布局。此探针装置包括一探针单元与一线路切换装置。探针单元包括支撑座与多探针，探针设置于支撑座上，用以对电子组件系统进行测试。线路切换装置用以使对应不同面板所需的探针与测试讯号源之间呈电性连接。
基本信息
专利标题 ：
电子组件测试系统的万用型探针装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1821790A
申请号 ：
CN200610004414.7
公开（公告）日 ：
2006-08-23
申请日 ：
2006-02-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张钦亮
申请人 ：
友达光电股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
魏晓刚
优先权 ：
CN200610004414.7
主分类号 ：
G01R1/073
IPC分类号 ：
G01R1/073 G01R31/00 G09G3/00 G01M11/00 G02F1/13
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2008-10-01 ：
授权
2006-10-18 ：
实质审查的生效
2006-08-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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