温度/厚度的测量装置、测量方法、测量系统、控制系统和控制...
专利权的终止
摘要
本发明提供一种温度/厚度测量装置,减轻装置安装的麻烦程度,不在各测量对象物上形成用于通过测量光的孔就可一次测量多个测量对象物的温度或厚度。包括:照射具有透过各测量对象物并反射的波长的光的光源、将来自光源的光分离为测量光和参照光的分离器、用于反射来自分离器的参照光的参照光反射单元(例如参照镜)、用于改变从参照光反射单元反射的参照光的光路长度的光路长度改变单元(例如驱动参照镜的驱动单元)、用于测量将来自分离器的参照光向参照光反射单元照射时从参照光反射单元反射的参照光与将来自分离器的测量光向多个测量对象物按照透过各测量对象物的方式加以照射时从各测量对象物反射的各测量光的光的干涉的光接收单元。
基本信息
专利标题 :
温度/厚度的测量装置、测量方法、测量系统、控制系统和控制方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1804567A
申请号 :
CN200610001281.8
公开(公告)日 :
2006-07-19
申请日 :
2006-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
铃木智博舆水地盐
申请人 :
东京毅力科创株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
龙淳
优先权 :
CN200610001281.8
主分类号 :
G01K11/00
IPC分类号 :
G01K11/00 G01B11/06 H01L21/324
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K11/00
不包括在G01K3/00,G01K5/00,G01K7/00或G01K9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量
法律状态
2018-03-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20060112
授权公告日 : 20101208
终止日期 : 20170112
申请日 : 20060112
授权公告日 : 20101208
终止日期 : 20170112
2010-12-08 :
授权
2006-09-13 :
实质审查的生效
2006-07-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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