用于光学元件的状态识别的方法
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摘要
本发明涉及一种用于激光装置(1)、尤其是激光加工机的光学元件(6，7，8)的状态识别或状态变化识别的方法和装置，其中检测在光学元件(6，7，8)温度变化时变化的参量，其中，将一个超声波信号输入耦合到光学元件中并且测量该超声波信号沿着所给定的或可给定的路段穿过光学元件的渡越时间和/或渡越时间变化。
基本信息
专利标题 ：
用于光学元件的状态识别的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101341000A
申请号 ：
CN200580052321.5
公开（公告）日 ：
2009-01-07
申请日 ：
2005-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
G·哈曼D·哈拉施J·霍厄纳德尔
申请人 ：
通快机床两合公司
申请人地址 ：
德国迪琴根
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
侯鸣慧
优先权 ：
CN200580052321.5
主分类号 ：
B23K26/42
IPC分类号 ：
B23K26/42 G01M11/02 G01N29/04
法律状态
2011-08-24 ：
授权
2009-02-25 ：
实质审查的生效
2009-01-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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