提供一种既确保LSI电路整体的高速动作又提高抗软错误能力的半导体器件以及实现此半导体电路器件的设计方法的CAD装置。本发明的CAD装置，其特征在于，具有：确定LSI电路的各信号传输电路所具有的信号传输时间的单元；确定在各信号传输电路所具有的触发电路被放射线照射时的输出翻转率的单元；确定成为关键路径的信号传输电路的单元；基于信号传输时间、输出翻转率以及时钟周期，计算LSI电路整体的软错误率的单元；在与所述LSI电路整体的软错误率相比预先规定的软错误率小时，降低LSI电路整体的软错误率，使成为关键路径的信号传输电路的信号传输时间不发生变化的单元，从而能够解决上述问题。