借助引力场分析进行材料检测的装置和方法
专利权的终止
摘要
现今通过传感器进行料位测量，这些传感器检测由相应的源发出的声学或者电磁信号或者放射性辐射，并且从测量结果中得出关于料位的相应结论。根据本发明的一个实施例，说明了一种借助引力场分析来测量料位(701或者702或者703或者704或者705)的传感器，该传感器包括第一和第二引力计单元。根据本发明的测量无接触地穿过容器壁进行，并且未将能量引入填料中。用于发送测量辐射的源并不昂贵。
基本信息
专利标题 ：
借助引力场分析进行材料检测的装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101099092A
申请号 ：
CN200580046439.7
公开（公告）日 ：
2008-01-02
申请日 ：
2005-11-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
费利克斯·拉法尔特
申请人 ：
VEGA格里沙贝两合公司
申请人地址 ：
德国沃尔法赫
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨生平
优先权 ：
CN200580046439.7
主分类号 ：
G01V7/00
IPC分类号 ：
G01V7/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V7/00
测量引力场或波；重力勘探或探测
法律状态
2018-11-02 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01V 7/00
申请日 : 20051110
授权公告日 : 20110302
终止日期 : 20171110
申请日 : 20051110
授权公告日 : 20110302
终止日期 : 20171110
2011-03-02 ：
授权
2008-02-27 ：
实质审查的生效
2008-01-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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