基板破碎检测方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种基板破损检测方法，其在与基板四角对应的位置分别设有一个传感器。本发明能够检测基板四角的破损，避免四角破损的基板进入生产线。
基本信息
专利标题 ：
基板破碎检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1995990A
申请号 ：
CN200510112271.7
公开（公告）日 ：
2007-07-11
申请日 ：
2005-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张海涛
申请人 ：
上海广电NEC液晶显示器有限公司
申请人地址 ：
201108上海市闵行区华宁路3388号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
薛琦
优先权 ：
CN200510112271.7
主分类号 ：
G01N21/896
IPC分类号 ：
G01N21/896
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
G01N21/896
透明材料之中或表面的光学缺陷，例如形变、表面瑕疵
法律状态
2011-01-05 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058454872
IPC(主分类) : G01N 21/896
专利申请号 : 2005101122717
公开日 : 20070711
号牌文件序号 : 101058454872
IPC(主分类) : G01N 21/896
专利申请号 : 2005101122717
公开日 : 20070711
2008-08-13 ：
实质审查的生效
2007-07-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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