从焦炭的高分辨透射电镜图像定量分析焦炭微晶单元的方法
专利权的终止
摘要

本发明公开了一种从焦炭的高分辨透射电镜图像定量分析焦炭微晶单元的方法,其包括下面的步骤:(1)对图中的每个条纹进行识别编号,并测量计算其各项参数,包括条纹长度、条纹中心坐标和条纹倾角;(2)对所有条纹比较后进行归并,比较包括平行度判定、相对位置判定和间距判定,将符合判定条件的条纹作为一个条纹组,并将具有相同层数的条纹组归类为1条纹组、2条纹组、3条纹组......;(3)计算每个条纹组的大小、高度、层间距;(4)计算每个条纹组各自占到该图所有条纹的比率,从而得到条纹组的分布状况。本发明可从焦炭的HRTEM图像中获取石墨微晶单元的大小、堆积层数、层间距以及单元的分布等结构参数,实现从微观角度对焦炭性能作出分析。

基本信息
专利标题 :
从焦炭的高分辨透射电镜图像定量分析焦炭微晶单元的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1979139A
申请号 :
CN200510110982.0
公开(公告)日 :
2007-06-13
申请日 :
2005-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴信慈杨俊和胡德生张琢曹银平程乐意张群
申请人 :
宝山钢铁股份有限公司;上海应用技术学院
申请人地址 :
201900上海市宝山区富锦路果园
代理机构 :
上海科琪专利代理有限责任公司
代理人 :
郑明辉
优先权 :
CN200510110982.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N13/00  G01B21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2018-01-23 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20051130
授权公告日 : 20101215
终止日期 : 20161130
2010-12-15 :
授权
2007-08-08 :
实质审查的生效
2007-06-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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