真空电子器件的模态验证方法及系统

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本发明公开了一种真空电子器件的模态验证方法包括如下步骤：(1)将被测真空电子器件夹紧并固定；(2)对被测真空电子器件实施激励；(3)将被测真空电子器件因激励而产生的物理量转换成电信号；(4)将所述电信号放大或衰减后进行分析处理得到被测真空电子器件的模态参数；(5)将所述的被测真空电子器件的模态参数与通过计算机仿真方法得到的模态参数进行验证。本发明用于检测微型结构电子产品的模态参数，掌握其结构的动力特性，检验其抗振性能，解决了真空电子器件微型结构内部模态验证这一难题，实际模态试验得到了理想的数据结果，能使模拟计算结果得到较好的验证。

基本信息

专利标题：

真空电子器件的模态验证方法及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1955750A

申请号：

CN200510100527.2

公开（公告）日：

2007-05-02

申请日：

2005-10-24

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

何小琦宋芳芳

申请人：

信息产业部电子第五研究所

申请人地址：

510610广东省广州市天河区东莞庄路110号

代理机构：

广州三环专利代理有限公司

代理人：

程跃华

优先权：

CN200510100527.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R31/00 G01M7/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2021-01-12 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/26
变更事项 : 专利权人
变更前 : 信息产业部电子第五研究所
变更后 : 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
变更事项 : 地址
变更前 : 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号
变更后 : 511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

2009-08-26 ：

授权

2007-06-27 ：

实质审查的生效

2007-05-02 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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