指纹模组偏差消除系统、方法和指纹模组图像调整方法
公开
摘要
本申请公开了一种指纹模组偏差消除系统、方法和指纹模组图像调整方法，该系统包括指纹模组和测试工具；指纹模组与测试工具电连接；测试工具用于接收指纹模组发送的第一指纹图像数据；以及接收指纹模组发送的第二指纹图像数据；测试工具还用于计算第一指纹图像数据和第二指纹图像数据的差值；基于差值计算得到指纹模组的按压变化量；以及将按压变化量发送至指纹模组；指纹模组用于接收并存储按压变化量。本申请实施例，通过计算得到的指纹模组自身的按压变化量来消除指纹模组表面油漆厚度不均所导致的图像灰度的偏差。
基本信息
专利标题 ：
指纹模组偏差消除系统、方法和指纹模组图像调整方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114359984A
申请号 ：
CN202011062475.5
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李振刚黄臣
申请人 ：
比亚迪半导体股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市大鹏新区葵涌街道延安路1号
代理机构 ：
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张美君
优先权 ：
CN202011062475.5
主分类号 ：
G06V40/13
IPC分类号 ：
G06V40/13
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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